BTB連接器是連接器的一種產(chǎn)品類(lèi)型，與其他類(lèi)型的連接器相比，BTB連接器不僅傳輸能力最強(qiáng)，而且還有著輕薄、高頻傳輸穩(wěn)定、無(wú)需焊接、降噪等特點(diǎn)。從性能上來(lái)說(shuō)，BTB連接器有著超強(qiáng)的耐腐蝕性和優(yōu)越的耐環(huán)境性，既具備了柔性連接的優(yōu)點(diǎn)，又承擔(dān)著信號(hào)轉(zhuǎn)化功能，作為電子元器件之間連接的橋梁，性能十分優(yōu)秀。
BTB連接器在選擇時(shí)可以從pin數(shù)、pitch值以及所具有的基本性能入手，例如電氣性能、環(huán)境性能、機(jī)械性能。
BTB連接器的pin數(shù)和pitch值是選擇時(shí)的基本依據(jù)，可根據(jù)需要連接的信號(hào)數(shù)量來(lái)選擇pin數(shù)，應(yīng)用在消費(fèi)電子領(lǐng)域中的BTB連接器，越來(lái)越向著小pitch化發(fā)展；BTB連接器的電氣性能主要體現(xiàn)在四個(gè)方面，接觸電阻、絕緣電阻、極限電流和抗電強(qiáng)度，在接通大功率的電源的時(shí)候，需要留意BTB連接器的極限電流，在傳輸高頻信號(hào)時(shí)則需要留意其接觸電阻；BTB連接器的環(huán)境性能有耐溫濕、耐鹽霧、熱沖擊等等，根據(jù)應(yīng)用環(huán)境的不同，對(duì)BTB連接器的要求側(cè)重點(diǎn)也不同；BTB連接器的機(jī)械性能是指拔插力、機(jī)械防呆、振動(dòng)、端子保持力等等。
BTB連接器在不同的應(yīng)用領(lǐng)域性能表現(xiàn)也不同。5G生態(tài)發(fā)展下，智能手機(jī)中對(duì)BTB連接器的需求在不斷增長(zhǎng)，在連接上，要做到堅(jiān)固連接、高可靠連接、高速傳輸以及抗干擾能力；在結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)上，要做到超低高度和精密化、小型化、超薄化。
智能手機(jī)BTB連接器以窄間距為主，其高性能、高精密度、小體積的優(yōu)點(diǎn)，符合當(dāng)下智能手機(jī)超薄化、高性能化的發(fā)展趨勢(shì)。在未來(lái)，BTB連接器不僅從外形結(jié)構(gòu)上優(yōu)化，還將在性能上有大的突破，隨著數(shù)字化、無(wú)線化技術(shù)的展開(kāi)，BTB連接器也將由傳統(tǒng)的連接方式轉(zhuǎn)化為無(wú)線傳輸。小而精密的BTB連接器，能達(dá)到更高的安全性能，除了高速傳輸外，還有著將電信號(hào)轉(zhuǎn)化成光信號(hào)并且具有屏蔽的功能。
5G時(shí)代的到來(lái)和智能手機(jī)功能模塊的增多，對(duì)于BTB連接器的需求有增無(wú)減，BTB連接器產(chǎn)能上漲，在一定程度上進(jìn)入了上升周期。從性能和市場(chǎng)需求綜合來(lái)看，BTB連接器可謂有著巨大的市場(chǎng)空間和滲透力，未來(lái)可涉足的領(lǐng)域更寬廣。
本文轉(zhuǎn)自凱智通微電子，對(duì)于BTB連接器測(cè)試，凱智通微電子研發(fā)出了一款專(zhuān)門(mén)針對(duì)BTB連接器測(cè)試的模組——彈片微針模組。這款模組支持BTB連接器測(cè)試中微小間距接觸模塊及大電流導(dǎo)通模塊。間距值最小可達(dá)到0.15mm，電流范圍最大可達(dá)到50A。
大電流彈片微針模組是一體成型的彈片設(shè)計(jì)，能在BTB連接器測(cè)試中對(duì)公母座進(jìn)行穩(wěn)定連接。不同頭型的彈片在BTB連接器測(cè)試時(shí)應(yīng)用的模式也不同。
1. 將鋸齒型的彈片連接BTB連接器公座，在測(cè)試時(shí)，彈片微針模組的彈片與BTB連接器彈片頂部多點(diǎn)接觸，可保證接觸的穩(wěn)定性。
2. 將尖頭型的彈片用于BTB連接器母座，測(cè)試時(shí)彈片頭部插入BTB連接器內(nèi)彈片開(kāi)口之間，對(duì)BTB連接器產(chǎn)生一定的張開(kāi)量，使彈片微針模組的彈片接觸面與BTB連接器彈片兩面一直保持接觸狀態(tài)，保證測(cè)試的穩(wěn)定性。
彈片微針模組頭型的自清潔能力設(shè)計(jì)，免去了人工維護(hù)的時(shí)間和物力成本，能夠使BTB連接器測(cè)試保持長(zhǎng)期的穩(wěn)定性。彈片微針模組采用的材質(zhì)是鎳合金/鈹銅，具有高精度、持久耐磨的特性，機(jī)械壽命高達(dá)20w次，能有效提高測(cè)試效率，降低測(cè)試成本。
